李想站在一侧，没有主动引导，只是平静开口：“各位可以在成品区、在制区、待检区任意选择抽样位置，样品数量、规格、批次，全部由你们决定。”
汉斯与查瓦迪、金俊勇低声交流几句，很快做出决定。
“我们抽三个批次。”汉斯伸出三根手指，“第一，成品仓随机一箱；第二，产线正在加工的中间品；第三，昨日刚入库的尾批次。覆盖全流程，避免任何针对性准备。”
“可以。”李想立刻应声，随即对身旁的品质主管交代，“配合客户抽样，全程不引导、不挑选、不替换。”
品质主管郑重点头：“明白。”
海外团队亲自行动，金俊勇亲自走到成品货架前，目光快速扫过成百上千箱整齐码放的芯片，没有任何犹豫，随手一指：“就这一箱，第7排第12列。”
仓管人员上前开箱，金俊勇亲手翻动，随机抓取十颗成品芯片。
随后，众人回到生产车间，查瓦迪在切割工位前，从正在流转的晶圆上亲手掰下一颗未经最终检测的颗粒，放入样品盒。
最后，在待检区，汉斯亲自指定了昨日生产的最后一批次，再次抽取十颗。
三个来源，覆盖全流程，没有任何操作空间。
抽样完成，所有人回到检测中心。海外团队没有给诚信任何交流机会，直接围拢在测试设备前，查瓦迪亲自操作测试程序，金俊勇紧盯数据界面，汉斯站在最外侧全程监督，形成了一套完全独立的验证闭环。
第一项测试：基础电性参数。
电压、电流、导通电阻、开关损耗、漏电流、击穿电压……
数据一行行刷新在大屏幕上，毫无遮挡，清晰可见。
第一项结束，查瓦迪抬头，看向汉斯，点了点头。
全部合格，无一颗超标。
第二项测试：耐压与高温稳定性。
这是功率半导体最核心、最容易暴露缺陷的指标。
设备启动，温度逐步拉升至125℃，施加额定反向电压，持续监测漏电流变化。
十分钟，二十分钟，三十分钟……
数据曲线平稳如直线，没有丝毫漂移、没有突增、没有击穿。
金俊勇原本紧绷的嘴角，微微放松下来。
第三项测试：开关循环寿命。
模拟实际工况连续开关10万次，检测参数衰减幅度。
测试结束，数据显示衰减率不足1.2%
…。。